SX1934D型二合一數字式四探針測試計 
 產品說明 
SX1934D型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業的篩選。 
產品特點 
 　　儀器由(you)主機、測(ce)(ce)試(shi)探頭(tou)（可選配測(ce)(ce)試(shi)臺）等部(bu)分(fen)組成(cheng)，測(ce)(ce)試(shi)結果由(you)數字(zi)表(biao)頭(tou)直接(jie)顯示。主機主要由(you)數控恒流源，高(gao)(gao)分(fen)辨率ADC、嵌(qian)入式單片機系統組成(cheng)，自動轉換(huan)量(liang)程。測(ce)(ce)試(shi)探頭(tou)高(gao)(gao)分(fen)子(zi)材料和高(gao)(gao)耐磨碳化鎢探針制(zhi)成(cheng)，故定(ding)位準(zhun)確、游移率小、壽命長。儀器具(ju)有測(ce)(ce)量(liang)精(jing)度高(gao)(gao)、靈(ling)敏度高(gao)(gao)、穩定(ding)性好、智能化程度高(gao)(gao)、測(ce)(ce)量(liang)簡便、結構緊湊、使用方便等特(te)點(自動調零)。可鑒(jian)別(bie)半導體PN類(lei)別(bie)。